產(chǎn)品介紹

NIST SRM 1762b 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證鋼鐵合金元素含量的化學(xué)和儀器分析方法。它們可用于驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部參考材料的價(jià)值分配。 SRM 1762b 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。 用途： 測(cè)試面是標(biāo)注面的反面，包含SRM號(hào)。認(rèn)證值適用于設(shè)備的整個(gè)厚度。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時(shí)不要測(cè)量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個(gè)封裝的磁盤都是通過(guò)使用銑床完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過(guò)程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過(guò)的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。 資料來(lái)源：SRM 1762b 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品的材料來(lái)自一家商業(yè)低合金鋼制造商。該材料在 NIST 進(jìn)行了清潔、切片、貼標(biāo)簽和包裝。 分析： NIST 對(duì) SRM 1762b 的材料進(jìn)行了均勻性測(cè)試。用于認(rèn)證 SRM 1762b 的測(cè)量是在 NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的。使用實(shí)心圓盤和由圓盤制備的芯片測(cè)試該材料。測(cè)試方法包括燃燒紅外檢測(cè)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法、惰性氣體聚變、快速伽馬射線活化分析和 X 射線光譜法

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