SRM640g是美國國家標準與技術(shù)研究院（NIST）研制的超高純硅粉標準參考物質(zhì)，屬640系列最l新批次，核心用途為X射線粉末衍射儀（XRD）校準，專為衍射線位置（2θ角）和線形（峰寬）的標準化提供量值基準，SRM640g 硅粉標準品廣泛應用于材料科學、半導體、化工等領域的晶體結(jié)構(gòu)分析與儀器性能驗證。

該SRM640g 硅粉標準品單單位為7.5克，采用氬氣封裝裝瓶防潮，原料源自德國Siltronic AG超高純本征硅晶錠，經(jīng)粉碎、噴射研磨至中值粒徑4.1μm，再于1000℃氬氣環(huán)境下退火2小時以消除晶格應力。核心認證值為22.5℃下晶格參數(shù)0.5431144nm±0.000008nm，量值溯源至國際單位制（SI），經(jīng)XRD分析驗證均勻性，相對晶格變化≤±4.8×10??（95%置信區(qū)間）。

使用與儲存需遵循規(guī)范：適配Bragg-Brentano幾何衍射儀，可通過基本參數(shù)法和Pawley精修校準2θ角及衍射峰半高寬（FWHM）；未使用部分需密封于原瓶，保持氬氣防護防潮，避免污染、損壞。其認證值在規(guī)定不確定度內(nèi)無限期有效，無需定期重新認證，違規(guī)儲存或使用會導致認證失效。

SRM640g 硅粉標準品無顯著安全風險，核心防護重點為防止吸潮與污染。作為XRD校準領域的關(guān)鍵基準物質(zhì)，它為檢測結(jié)果的準確性與可比性提供保障，是科研及工業(yè)質(zhì)量控制體系的重要支撐。

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