SRM1976c是美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）發(fā)布的X射線粉末衍射（XRD）專用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)（SRM），核心用途是校準(zhǔn)XRD儀器的線位置與衍射強(qiáng)度，保障儀器在不同2θ角下測量結(jié)果的準(zhǔn)確性、一致性與可比性，SRM1976c X射線粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品適用于各類XRD儀器的性能驗(yàn)證、校準(zhǔn)及實(shí)驗(yàn)室檢測方法的驗(yàn)證工作，廣泛應(yīng)用于材料檢測、計(jì)量校準(zhǔn)等領(lǐng)域。

該標(biāo)準(zhǔn)品為固體燒結(jié)圓盤形態(tài)，基體材質(zhì)為高純度燒結(jié)氧化鋁（剛玉），具有極低的X射線衰減特性和優(yōu)異的化學(xué)穩(wěn)定性。單單元含1張燒結(jié)圓盤，規(guī)格固定為直徑約25.6毫米、厚度約2.2毫米，采用專用模具單次沖壓成型，表面存在約10μm的邊緣-中心凹陷，不影響XRD測量精度，其軸對稱紋理可提供穩(wěn)定的衍射響應(yīng)基礎(chǔ)。

核心認(rèn)證指標(biāo)包括相對強(qiáng)度（無量綱比）和晶格參數(shù)（以納米為單位），量值均溯源至國際單位制（SI），衍射線位置、偏振影響修正值等關(guān)鍵參數(shù)以信息值形式提供，輔助精準(zhǔn)校準(zhǔn)運(yùn)算。該標(biāo)準(zhǔn)品微應(yīng)變水平極低，無明顯微晶尺寸展寬現(xiàn)象，可徹l底消除粉末樣品加載過程中可能引入的強(qiáng)度測量變異，確保不同實(shí)驗(yàn)室、不同操作人員使用時(shí)結(jié)果統(tǒng)一。

儲存與使用需遵循簡易規(guī)范：SRM1976c X射線粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品無需特殊低溫儲存，置于環(huán)境溫度（15℃-30℃）、潔凈干燥的環(huán)境中即可，避免陽光直射、機(jī)械沖擊及腐蝕性物質(zhì)接觸，防止圓盤表面受損。使用時(shí)直接適配各類XRD儀器，無需復(fù)溶或預(yù)處理，可長期穩(wěn)定使用，其穩(wěn)定的物理化學(xué)特性可有效保障校準(zhǔn)精度的長效性。

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